Beschreibung
Mit dem LEICA TS-APO-Elmar-S 1:5,6/120mm ASPH. können die Perspektive und die Lage der Schärfenebene kontrolliert werden. Bei einer Blickwinkelverlagerung ändert sich die Perspektive nicht. Dies ermöglicht z. B. Architekturaufnahmen ohne stürzende Linien. Zusätzlich kann durch Schwenken des Objektivs ein flaches Motiv in Schrägsicht bei offener Blende vollständig scharf abgebildet werden. Umgekehrt kann man durch Kippen der Schärfenebene entgegen der Ausdehnung des Motivs die Schärfentiefe extrem verkürzen.
